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IMLD-B型中空玻璃露點儀(半導體制冷)是我公司根據GB/T11944—2012《中空玻璃》的規定條件自主研發與生產的試驗設備。用來測量中空玻璃的露點,檢測中空玻璃試樣內表面在標準規定條件和方法情況下是否結露。
IMLD-B型中空玻璃露點儀(半導體制冷)產品概述:
中空玻璃露點儀是我公司根據GB/T11944—2012《中空玻璃》的規定條件自主研發與生產的試驗設備。用來測量中空玻璃的露點,檢測中空玻璃試樣內表面在標準規定條件和方法情況下是否結露。
IMLD-B型中空玻璃露點儀(半導體制冷)適用標準:
GB/T11944-2012《中空玻璃》
GB/T7020-1986《中空玻璃測試方法》
BS5713:1979《中空玻璃技術要求》
ASTME546-88《中空玻璃結霜點測試方法》
JISR3209-1998《中空玻璃》
IMLD-B型技術指標
1、控制箱尺寸:470mm×550mm×700mm;
2、測量探頭工作溫度:-60℃~-40℃;
3、數顯溫度計測量范圍:-65℃~+50℃(注:測量范圍可調);
4、溫度分辨率:1℃;
5、電源電壓:AC220V50Hz
IMLD-B型產品特點
1、試驗箱體外殼采用噴塑方法,使得機箱外觀質量優異,機械強度強,防腐蝕、不生銹。
2、采用半導體三級制冷的技術,制冷效果,數據穩定。
3、利用數顯表對所需的試驗溫度進行控制,并且可以實時的顯示測溫點的溫度值。
4、試驗的操作過程方便,試驗設備不僅可以在試驗室內使用,而且可以在現場進行檢測。
5、不需要使用容易揮發的干冰做試驗,成品更加的低廉。
6、設備中的探頭和制冷機組可實現*分離,方便實用且不受試件方向限制。
7、采用pt100溫度探頭,測量精度高,數據準確。
8、液體循環使用耐壓耐腐蝕的橡膠管,增加了露點儀的使用壽命。
9、溫度值控制采用微機溫控PID調節技術,控溫精度高,溫度穩定性高。
10、安全性能高,在設計的過程中電路與制冷循環的獨立化,使得設備電氣部分不受液體循環的影響,從而保證了電器部分采集數據的穩定性。
11、集成了電源、冷卻、循環和控制系統,實現全過程自動控制。
12、在試驗過程中,探頭的工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。
13、試驗過程可以根據詳細的產品說明書,按步驟執行。整個試驗操作簡單易學。
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