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KX200型高(gao)精(jing)度(du)涂鍍層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)一種便(bian)攜式(shi)測(ce)量(liang)儀(yi)，它能(neng)快速、無損傷、精(jing)密地進行涂、鍍層(ceng)厚(hou)度(du)的(de)測(ce)量(liang)。既可用(yong)于(yu)實驗室，也可用(yong)于(yu)工(gong)程(cheng)現(xian)場(chang)。通過使用(yong)不同的(de)測(ce)頭，還可滿(man)足多種測(ce)量(liang)的(de)需要。本儀(yi)器能(neng)廣(guang)泛地應用(yong)在制造業、金屬(shu)加工(gong)業、化工(gong)業、商(shang)檢(jian)等檢(jian)測(ce)領域。是(shi)材料(liao)保(bao)護專業*的(de)儀(yi)器。
KX200型高精度涂鍍層測厚儀是(shi)一種便攜式測(ce)量儀(yi)，它能(neng)快(kuai)速、無(wu)損(sun)傷、精密(mi)地進行涂、鍍層(ceng)厚度的測(ce)量。既可用(yong)于實驗(yan)室，也可用(yong)于工程現場。通過使用(yong)不同的測(ce)頭，還(huan)可滿足多種測(ce)量的需要。本儀(yi)器(qi)能(neng)廣泛地應用(yong)在制造業(ye)、金屬加工業(ye)、化(hua)工業(ye)、商檢等檢測(ce)領域(yu)。是(shi)材(cai)料保護專業(ye)*的儀(yi)器(qi)。
本儀器符合以下標準：
GB/T4956─1985磁性(xing)金屬基體上非磁性(xing)覆蓋層厚度測(ce)量(liang)磁性(xing)方(fang)法
GB/T4957─1985非磁性金屬(shu)基體上非導電覆蓋層(ceng)厚度測(ce)量(liang)渦流方法
JB/T8393─1996磁性和渦流(liu)式覆層(ceng)厚(hou)度測量(liang)儀(yi)
JJG889─95《磁阻法測厚儀》
JJG818─93《電渦流式測(ce)厚儀》
功能用途：
可應用(yong)(yong)(yong)于電鍍(du)層(ceng)，油(you)漆層(ceng)，搪瓷層(ceng)，鋁瓦，銅(tong)瓦，巴(ba)氏合(he)金瓦，磷(lin)化層(ceng)，紙張的(de)厚度測量，也可用(yong)(yong)(yong)于船體油(you)漆及水下(xia)結構的(de)附(fu)著物的(de)厚度測量。本儀器(qi)能(neng)廣(guang)泛地應用(yong)(yong)(yong)在制造業(ye)、金屬加工業(ye)、化工業(ye)、商檢等檢測領域(yu)，是材料保護專業(ye)*的(de)儀器(qi)。
工作原理：
本儀器采用(yong)了(le)磁(ci)性和渦流(liu)兩種測厚方法，可無損地測量磁(ci)性金(jin)屬(如鋼(gang)、鐵、鎳(nie)、合(he)金(jin)和硬磁(ci)性鋼(gang)等)基(ji)(ji)體上非磁(ci)性覆(fu)蓋層(ceng)的厚度(如鋁(lv)(lv)、鉻、銅、琺(fa)瑯、橡膠、油(you)漆等),及非磁(ci)性金(jin)屬基(ji)(ji)體(如銅、鋁(lv)(lv)、不銹鋼(gang)、鋅、錫(xi)等)上非導電覆(fu)蓋層(ceng)的厚度(如:琺(fa)瑯、橡膠、油(you)漆、塑料(liao)等)。
KX200型高精度涂鍍層測厚儀特點：
有多種(zhong)測(ce)(ce)頭(tou)類型(xing)可供(gong)選(xuan)擇，測(ce)(ce)頭(tou)接(jie)觸部件鍍硬鉻(ge)或為紅寶(bao)石(shi)，經久耐用(yong)；
自動識別探頭
可以在(zai)任測(ce)量位置讀取測(ce)量數據(ju)，采用(yong)手(shou)機菜單式(shi)功能選擇方式(shi)，操作(zuo)十分簡便。
可設定上(shang)下限值(zhi)，測量結果大于等于上(shang)下限數值(zhi)時，儀器會發出相應的聲音或閃爍(shuo)燈(deng)提示。
穩定性(xing)*，不必校正便可長期(qi)使用。
可以對單(dan)個或多個數(shu)據進行刪除
操作過程中有蜂鳴聲提示
通過屏顯或蜂(feng)鳴(ming)聲對錯(cuo)誤(wu)進行提示(shi)
設有五(wu)個統(tong)計量(liang)：平均值（MEAN）、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(NO.)、標(biao)準偏差(S.DEV)
通過(guo)選擇相應的(de)測(ce)(ce)頭，既可測(ce)(ce)量磁(ci)性(xing)金(jin)屬基體(ti)上非磁(ci)性(xing)覆(fu)蓋層的(de)厚度(du)，又(you)可測(ce)(ce)量非磁(ci)性(xing)金(jin)屬基體(ti)上非導電覆(fu)蓋層的(de)厚度(du)；
具有測(ce)頭(tou)(tou)零點校(xiao)準、一點校(xiao)準、兩點校(xiao)準功能,并(bing)可用基(ji)本校(xiao)準法(fa)對測(ce)頭(tou)(tou)的系統誤差進(jin)行修正；
具有測量狀(zhuang)態(tai)提示功能；
有背(bei)光(guang)顯示(shi)，方(fang)便在光(guang)線(xian)昏暗環境中使用；
有剩余電(dian)(dian)量指(zhi)示(shi)功能，可實時(shi)顯(xian)示(shi)電(dian)(dian)池剩余電(dian)(dian)量；
具有自(zi)(zi)動休眠、自(zi)(zi)動關機等節電功(gong)能；
可選擇配備微機(ji)軟件，具有傳輸測量結(jie)果、測值存儲管理、測值統計分析、打印測值報(bao)告等豐富功能(neng)；
采(cai)用(yong)鋁制外殼，小巧(qiao)、便(bian)攜、堅實(shi)耐用(yong)，適(shi)用(yong)于惡劣的操作環境，抗振動、沖(chong)擊和電磁(ci)干擾
技術參數
測頭類型 | 可選 |
測量原理 | 磁感應和電渦流 |
測量范圍 | 0-1250um標準（探頭決(jue)定(ding)） |
低限分辨力 | 探頭決定 |
探頭連接方式 | 分體式導線連接（可更換(huan)） |
溫濕度 | 0~40℃ |
統計功能 | 平均值（MEAN）、較大值（MAX）、小值（MIN）、 |
工作方式 | 直接方(fang)式(shi)(shi)(DIRECT)和成組(zu)方(fang)式(shi)(shi)(Appl) |
測量方式 | 連續測量方式(shi)和單次測量方式(shi) |
上下限設置 | 有 |
存儲能力 | 495個測量值 |
連接計算機 | 能連接電腦輸出 |
關機方式 | 手動和自動 |
電源 | 1/2鎳氫(qing)電池5×1.2V |
外形尺寸 | 115mm×67mm×31mm |
重量 | 340g |
探頭區別
測量方法 影響因素 | 磁性方法 | 渦流方法 |
基體金屬磁性質 | ▲ |
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基體金屬電性質 |
| ▲ |
基體金屬厚度 | ▲ | ▲ |
邊緣效應 | ▲ | ▲ |
曲率 | ▲ | ▲ |
試樣的變形 | ▲ | ▲ |
表面粗糙度 | ▲ | ▲ |
磁場 | ▲ |
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附著物質 | ▲ | ▲ |
測頭壓力 | ▲ | ▲ |
測頭取向 | ▲ | ▲ |
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